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NI半导体测试系统
NINI半导体测试系统12-12
NI NI NI 适用于主流半导体制造环境 半导体测试系统将NI PXI平台的开放性和灵活性引入半导体生产环境。 此外,系统还提供了一些功能,比如分选机/探针台集成、
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无线测试
NI无线测试12-12
NI NI NI 借助无线测试系统降低测试成本 无线测试系统(WTS)改变了无线生产测试的现状。 WTS结合NI PXI矢量信号收发仪(VST)和多核处理技术,提供业界领先的测试
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NI车载雷达测试系统
NINI车载雷达测试系统12-12
NI NI NI 汽车雷达障碍物模拟和射频测量 VRTS为76至81 GHz汽车雷达系统提供自动化雷达测量和障碍物模拟功能。借助VRTS,您可以执行精确的RF测量,并模拟雷达硬
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NI PXI高性能测控系统
NINI PXI高性能测控系统01-26
NI NI NI PXI是一种基于PC,专用于测试、测量与控制的开放式硬件平台,基于成熟PC技术的PXI架构提供业内的最高带宽和最低延迟。作为PXI标准的提出者和领导者,NI
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NI CompactRIO嵌入式测控平台
NINI CompactRIO嵌入式测控平台01-26
NI NI NI NI CompactRIO以LabVIEW FPGA及LabVIEW实时技术为核心,由一个实时控制器、内置可重配置FPGA芯片的坚固机箱和NI C系列I/O模块组合而成,是一款专为高性
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NI LabVIEW完整版开发系统 (Linux版)
NINI LabVIEW完整版开发系统 (Linux版)07-24
NI NI NI NI LabVIEW是为工程师和科学家提供的创建测试、测量和控制应用程序的开发环境,受到广泛赞誉。NI LabVIEW可通过各种手段来快速轻松采集实际信号、分析辨
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