七星华创关注排行
产品描述：
产品介绍：
设备用于测量硅片的薄层电阻和电阻率，也能测量其他半导体片、膜的薄层电阻和电阻率，且可对扩散、外延、离子注入等工艺设置进行监测和评估，该测试仪还可用于镀膜玻璃行业对金属膜层的薄膜电阻进行测量。
描述：
1.采用工控机控制、基于WINDOWS98系统平台的测试程序，具有良好的人机界面。
2.可以通过鼠标输入的方式选择测量项目、测量方式、测量方法等测试所需参数，操作简单，方便。
3.根据需要对测量参数进行保存、打印，并可根据所选数据的结果绘制、打印直方图，以满足用户进行数据统计和数据管理等要求的需要。
4.探头采用美国原装产品，测试稳定、可靠。
产品选型详见订货须知。
京公网安备 11011202001138号
